Короткохвильовий інфрачервоний діапазон (SWIR) – це спеціально розроблена оптична лінза, призначена для захоплення короткохвильового інфрачервоного світла, яке не сприймається безпосередньо людським оком. Цей діапазон зазвичай позначається як світло з довжинами хвиль від 0,9 до 1,7 мікрона. Принцип роботи короткохвильової інфрачервоної лінзи залежить від властивостей пропускання матеріалу для певної довжини хвилі світла, і за допомогою спеціалізованих оптичних матеріалів і технології покриття лінза може ефективно проводити короткохвильове інфрачервоне світло, пригнічуючи видиме світло та інші небажані довжини хвиль.
Його основні характеристики включають:
1. Висока пропускальна здатність та спектральна селективність:Лінзи SWIR використовують спеціалізовані оптичні матеріали та технологію покриття для досягнення високого коефіцієнта пропускання в короткохвильовому інфрачервоному діапазоні (від 0,9 до 1,7 мікрона) та мають спектральну селективність, що полегшує ідентифікацію та проведення певних довжин хвиль інфрачервоного світла та пригнічення інших довжин хвиль світла.
2. Стійкість до хімічної корозії та термічна стабільність:Матеріал та покриття лінзи демонструють видатну хімічну та термічну стабільність і можуть підтримувати оптичні характеристики за екстремальних коливань температури та різноманітних умов навколишнього середовища.
3. Висока роздільна здатність та низький рівень спотворень:Лінзи SWIR демонструють високу роздільну здатність, низький рівень спотворень та швидку оптичну реакцію, що відповідає вимогам отримання зображень високої чіткості.
Короткохвильові інфрачервоні лінзи широко використовуються в галузі промислового контролю. Наприклад, у процесі виробництва напівпровідників, лінзи SWIR можуть виявляти дефекти всередині кремнієвих пластин, які важко виявити у видимому світлі. Технологія короткохвильової інфрачервоної візуалізації може підвищити точність та ефективність контролю пластин, тим самим знижуючи виробничі витрати та підвищуючи якість продукції.
Короткохвильові інфрачервоні лінзи відіграють життєво важливу роль у перевірці напівпровідникових пластин. Оскільки короткохвильове інфрачервоне світло може проникати крізь кремній, ця властивість дозволяє короткохвильовим інфрачервоним лінзам виявляти дефекти в кремнієвих пластинах. Наприклад, пластина може мати тріщини через залишкові напруження під час виробничого процесу, і ці тріщини, якщо їх не виявити, безпосередньо впливатимуть на вихід продукції та вартість виробництва готової мікросхеми. Використовуючи короткохвильові інфрачервоні лінзи, такі дефекти можна ефективно виявляти, тим самим підвищуючи ефективність виробництва та якість продукції.
У практичному застосуванні короткохвильові інфрачервоні лінзи можуть забезпечувати висококонтрастні зображення, роблячи навіть дрібні дефекти чітко видимими. Застосування цієї технології виявлення не тільки підвищує точність виявлення, але й зменшує вартість і час ручного виявлення. Згідно зі звітом про дослідження ринку, попит на короткохвильові інфрачервоні лінзи на ринку напівпровідникової детекції зростає з року в рік і очікується, що він збереже стабільну траєкторію зростання в найближчі кілька років.
Час публікації: 18 листопада 2024 р.