Короткохвильове інфрачервоне випромінювання (SWIR) являє собою спеціально розроблену оптичну лінзу, розроблену для захоплення короткохвильового інфрачервоного світла, яке безпосередньо не сприймається людським оком. Цю смугу прийнято позначати як світлову з довжинами хвиль від 0,9 до 1,7 мкм. Принцип роботи короткохвильової інфрачервоної лінзи залежить від пропускної здатності матеріалу для певної довжини хвилі світла, а за допомогою спеціальних оптичних матеріалів і технології покриття лінза може вміло пропускати короткохвильове інфрачервоне світло, одночасно пригнічуючи видиме світло та інші небажані довжини хвиль.
Його основні характеристики включають:
1. Висока пропускна здатність і спектральна вибірковість:Лінзи SWIR використовують спеціалізовані оптичні матеріали та технологію покриття для досягнення високого коефіцієнта пропускання в короткохвильовому інфрачервоному діапазоні (від 0,9 до 1,7 мікрон) і мають спектральну вибірковість, полегшуючи ідентифікацію та проведення певних довжин хвиль інфрачервоного світла та інгібування інших довжин хвиль світла .
2. Стійкість до хімічної корозії та термічна стабільність:Матеріал і покриття лінзи демонструють надзвичайну хімічну та термічну стабільність і можуть підтримувати оптичні характеристики за екстремальних температурних коливань і різноманітних умов навколишнього середовища.
3. Висока роздільна здатність і низькі спотворення:Лінзи SWIR демонструють високу роздільну здатність, низькі спотворення та оптичні характеристики швидкої реакції, що відповідає вимогам зображення високої чіткості.
Короткохвильові інфрачервоні лінзи широко використовуються в галузі промислового контролю. Наприклад, у процесі виробництва напівпровідників лінзи SWIR можуть виявляти дефекти всередині кремнієвих пластин, які важко виявити у видимому світлі. Технологія короткохвильового інфрачервоного зображення може підвищити точність і ефективність перевірки пластин, тим самим зменшуючи витрати на виробництво та підвищуючи якість продукції.
Короткохвильові інфрачервоні лінзи відіграють важливу роль у перевірці напівпровідникових пластин. Оскільки короткохвильове інфрачервоне світло може проникати в кремній, цей атрибут дає змогу короткохвильовим інфрачервоним лінзам виявляти дефекти всередині кремнієвих пластин. Наприклад, на пластині можуть бути тріщини через залишкову напругу під час виробничого процесу, і ці тріщини, якщо їх не буде виявлено, безпосередньо впливатимуть на продуктивність і вартість виробництва кінцевої готової мікросхеми. Використовуючи короткохвильові інфрачервоні лінзи, такі дефекти можна ефективно розпізнавати, тим самим сприяючи ефективності виробництва та якості продукції.
У практичних застосуваннях короткохвильові інфрачервоні лінзи можуть створювати висококонтрастні зображення, роблячи навіть незначні дефекти помітними. Застосування цієї технології виявлення не тільки підвищує точність виявлення, але й зменшує вартість і час ручного виявлення. Згідно зі звітом про дослідження ринку, попит на короткохвильові інфрачервоні лінзи на ринку детектування напівпровідників зростає з кожним роком і, як очікується, підтримуватиме стабільну траєкторію зростання в найближчі кілька років.
Час публікації: 18 листопада 2024 р